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PCT老化试验箱

  • 更新时间:  2019-10-11
  • 产品型号:  BERT-35
  • 简单描述
  • PCT老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等等。
详细介绍

  PCT老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

  PCT老化试验箱广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

  PCT老化试验箱在使用应注意以下几点要求:

  1、满负荷工作,每一台试验机都有它的有效测量范围,不要超过满量程80%。长时间满量程工作,会对设备使用精度和寿命降低。

  2、微机控制电子拉力试验机,微机和拉力试验机的连接线一定要按照说明书来进行链接,避免链接错误烧坏电器件。

  3、试验速度选择不合适:每种材料试验速度都有相应的国标要求,速度选择不对不仅影响设备寿命,而且测试结果也会不准确。

  4、PCT试验机试验完成离开实验室时要把拉力试验机和微机电源关闭,一方面节约电,一方面为了保证安全和电器件的使用寿命。

  5、做完试验不用时,一定卸掉拉断的被测试样,避免夹具长时间受力变形,方便下次使用。


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